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射流式高低溫測試機日常維護小方法

 更新時間:2020-08-14 點擊量:1377

  射流(liu)式高低溫(wen)測試(shi)機溫(wen)度一(yi)般都比(bi)較(jiao)廣(guang),我(wo)們(men)建(jian)議(yi)將其(qi)置于比(bi)較(jiao)良性溫(wen)度環境中(zhong),建(jian)議(yi)堅(jian)持專人(ren)專業(ye)管(guan)理,有條件的單位(wei)應不定期(qi)派專人(ren)到供方(fang)工廠培訓(xun)學(xue)習(xi),以獲得較(jiao)專業(ye)的維(wei)護、維(wei)修的經驗和能(neng)力射(she)流式(shi)高低(di)溫測試機(ji)固定每3個月(yue)清洗(xi)一次(ci)冷凝器對(dui)于(yu)壓縮(suo)(suo)機(ji)采(cai)用(yong)風冷(leng)(leng)冷(leng)(leng)卻的,應定期檢修冷(leng)(leng)凝風機(ji)并對(dui)冷(leng)(leng)凝器(qi)進行去污除塵(chen)以(yi)保證(zheng)其良好的通(tong)風換熱性能;對(dui)于(yu)壓縮(suo)(suo)機(ji)采(cai)用(yong)水冷(leng)(leng)冷(leng)(leng)卻的,除須(xu)保證(zheng)其進水壓力與進水溫度外,還須(xu)保證(zheng)相應流(liu)量。

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

無錫冠亞射(she)流式高低(di)溫(wen)沖擊測試機

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環境溫度。

是對產品電(dian)性能測試、失效分(fen)析、可(ke)靠性評估*的儀器(qi)設備。

廣泛應用于半導體企業、航空航天、光通(tong)訊、高校、研究所等領域。

 

 

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

  定期清洗(xi)射流式高(gao)低溫測試(shi)機(ji)蒸(zheng)發器因試(shi)品的潔凈等各(ge)異,在強(qiang)制風(feng)循環(huan)作用下(xia)蒸(zheng)發器上會(hui)凝聚(ju)很多塵埃(ai)等小顆粒物(wu)體,應(ying)定(ding)期進(jin)行清洗循(xun)環風(feng)葉、冷(leng)凝器風(feng)機清潔和平(ping)衡與清(qing)洗蒸發器相似,因試驗箱的工作環境各異,循環風葉和冷凝(ning)(ning)器風機上會凝(ning)(ning)聚很多塵(chen)埃(ai)等(deng)小顆粒(li)物體,應定期(qi)進行清(qing)洗

  射流式高低(di)溫測(ce)試機水路與加濕器(qi)清洗若水路不暢、加濕(shi)器(qi)(qi)結垢易導致加濕(shi)器(qi)(qi)干燒,可能(neng)損壞加濕(shi)器(qi)(qi),所以定期對水路與加濕器進行清洗堅(jian)持每次(ci)試驗(yan)完畢后將溫度(du)設定在環境(jing)溫度(du)附(fu)近,工作30分鐘左右后再切斷電源,并擦干凈工作室內(nei)壁

  射(she)流式高低(di)溫測(ce)試(shi)機設備若需(xu)搬遷*好(hao)在(zai)宏展公(gong)司(si)技(ji)術(shu)人員指導下進行,以免造成(cheng)不(bu)必要的損傷或損壞設備長期停機不使用時應定期每半月給產品通(tong)電,通(tong)電時間(jian)不小于1小時

  由于射流式高低(di)溫測(ce)試機基本(ben)由電氣、制冷和(he)機械多個(ge)系統組成,因(yin)此一(yi)旦(dan)設備(bei)出現問題(ti),應對整(zheng)個(ge)設備(bei)系統進行檢查和(he)綜合分析

一般(ban)來說分析判斷的過(guo)程可(ke)以先(xian)"外"后"里",即先(xian)排除(chu)外部因(yin)素(su)后,根據故障現象(xiang)對設備(bei)進行先(xian)系統分解后對系(xi)統綜合的分析與(yu)判(pan)斷或可(ke)以采用(yong)倒(dao)推的方(fang)法(fa)查找故障(zhang)原因先按照電氣(qi)(qi)接線圖查找是(shi)(shi)否(fou)電氣(qi)(qi)系統有問(wen)(wen)題(ti),*后查找是(shi)(shi)否(fou)制冷系統的(de)問(wen)(wen)題(ti)在沒(mei)弄清(qing)故障(zhang)原因前,切(qie)不(bu)可肓目拆(chai)卸或更換(huan)零(ling)部件,以(yi)免造成不(bu)必要(yao)的麻煩