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簡(jian)要描述：【無(wu)錫冠亞(ya)】半(ban)導體控溫解決(jue)方案主(zhu)要產(chan)品包括(kuo)半(ban)導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半(ban)導體??藝廢?處理裝(zhuang)置(zhi)等?設備，?泛應(ying)?于半(ban)導體、LED、LCD、太陽能光(guang)伏(fu)等領域。-105℃循環風(feng)控溫裝(zhuang)置(zhi) FLTZ雙變頻系列
產(chan)品型號：LTS-202廠商性質(zhi)：生產廠家更新時間：2024-01-11訪 問 量：539| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半導體(ti)專?溫控設備、射流式(shi)?低溫沖擊測(ce)試機(ji)和半導體(ti)??藝廢(fei)?處理裝置等?設備，
?泛(fan)應(ying)?于(yu)半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域(yu)。
半導體專溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用(yong)溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷(leng)型(xing)
循環(huan)風控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒(heng)溫測試冷熱源
射流(liu)式高低溫沖擊測試(shi)機
快速溫(wen)變控溫(wen)卡盤
數據(ju)中心(xin)液冷解決方(fang)案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-105℃循環風控溫裝置 FLTZ雙變頻系列
-105℃循環風控溫裝置 FLTZ雙變頻系列
射流式高(gao)低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路(lu)板、電子元器件等提供精確且快速的環境溫度。
是對(dui)產品電性能測試、失(shi)效分析、可靠性評估(gu)的儀器設(she)備。
溫度(du)控制(zhi)范(fan)圍(wei)：-120℃ 至+300℃，升(sheng)降(jiang)溫速(su)率?常快速(su)，150℃?-55℃＜10秒，zui??流(liu)量：30m3/h；
實(shi)時(shi)監(jian)控被測IC真實(shi)溫度,實(shi)現閉環(huan)反饋，實(shi)時(shi)調整?體溫度升降溫時(shi)間可控，程(cheng)序化(hua)操作(zuo)(zuo)、?動操作(zuo)(zuo)、遠程(cheng)控制
檢查光模塊高低溫(wen)測試設備的(de)電氣(qi)部件，包括電源、電纜、接(jie)線端子、傳感器等(deng)。確(que)保電氣(qi)部件沒有過熱、松(song)動或(huo)損壞(huai)等(deng)問題。如有異常，應及時維修或(huo)更換。
5、設(she)備安全檢查(cha)
檢查光模塊(kuai)高低溫(wen)測試設備的安全裝置(zhi)(zhi)，包括超溫(wen)保(bao)護、過(guo)載保(bao)護、漏電保(bao)護等。確(que)保(bao)安全裝置(zhi)(zhi)完(wan)好無損，工作正常(chang)。如(ru)有異(yi)常(chang)，應(ying)及時(shi)維修或更(geng)換。
6、設備運行(xing)測試
定期進行(xing)光模(mo)塊高低溫(wen)測(ce)(ce)試(shi)設備運行(xing)測(ce)(ce)試(shi)，以檢查設備的性能(neng)和可靠(kao)性。在測(ce)(ce)試(shi)過(guo)程中，應逐步增加溫(wen)度(du)和濕度(du)條件，并觀察設備的反(fan)應和讀數是否正常。如有異常，應及時排查問題(ti)并修復。
7、記(ji)錄和(he)維護記(ji)錄
對光模塊(kuai)高低溫測試設備每次維(wei)(wei)護保養進行記(ji)錄，包(bao)括檢(jian)查(cha)的(de)(de)項目、發(fa)現(xian)的(de)(de)問題(ti)、采取的(de)(de)措施等。保持記(ji)錄的(de)(de)完(wan)整性和(he)(he)準(zhun)確性，以便追蹤和(he)(he)管理(li)設備的(de)(de)維(wei)(wei)護歷史。
總之(zhi)，光模塊高低溫測試設備(bei)的維護保(bao)養是確保(bao)設備(bei)正常運行和使用壽命的節，通(tong)過定(ding)期檢查、清潔、維修(xiu)和記錄等方(fang)法，可以有效地提升設備(bei)的(de)性能和可靠(kao)性，降低故障率，從而為半導體(ti)芯片的(de)研發和生產提供可靠(kao)的(de)測試保障。
