無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的半導體控溫解決方案

主要產品包(bao)括半(ban)導體專?溫(wen)控設備、射流式?低(di)溫(wen)沖擊測試(shi)機和半(ban)導體??藝(yi)廢?處理(li)裝置等(deng)?設備，

?泛應?于半導體(ti)、LED、LCD、太陽能光伏等領域。

【 冠亞制冷 】半導體行業主營控溫產品：

半導(dao)體專溫控設備

射流式?低溫(wen)沖擊測試機

半導體專(zhuan)用溫控設備chiller

Chiller氣體(ti)降溫(wen)(wen)控(kong)溫(wen)(wen)系統

Chiller直(zhi)冷型

循環風控溫(wen)裝置

半導體?低溫測試設備

電(dian)?設備?溫(wen)低(di)溫(wen)恒溫(wen)測試冷熱(re)源(yuan)

射流式(shi)高低溫沖擊測試機

快速(su)溫變控溫卡盤

數(shu)據中心液冷(leng)解決方案

-65℃~125℃循環風控溫裝置 FLT系列Chiller

-65℃~125℃循環風控溫裝置 FLT系列Chiller

射流式高低溫(wen)沖(chong)擊測試機給芯(xin)片、模塊、集成(cheng)電路(lu)板、電子元器件等(deng)提供精確且(qie)快速的環(huan)境溫(wen)度。

是對產品電性能(neng)測試、失(shi)效分析、可(ke)靠性評估的儀器(qi)設備。

溫度控制范(fan)圍：-120℃ 至+300℃，升降(jiang)溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒(miao)，zui??流(liu)量：30m3/h；

實(shi)(shi)時(shi)監控(kong)(kong)被(bei)測(ce)IC真實(shi)(shi)溫(wen)度,實(shi)(shi)現閉環反饋，實(shi)(shi)時(shi)調整?體溫(wen)度升(sheng)降溫(wen)時(shi)間可控(kong)(kong)，程序(xu)化操作、?動操作、遠程控(kong)(kong)制

　　冷(leng)熱(re)循(xun)環沖擊(ji)測(ce)試(shi)機是用于(yu)測(ce)試(shi)集成電路在不同溫度下的性能和(he)穩(wen)定性的設備，在選(xuan)購冷(leng)熱(re)循(xun)環沖擊(ji)測(ce)試(shi)機時，需要考慮以下幾個方面：

　　1、測(ce)試(shi)溫度范(fan)圍(wei)：根據需要測(ce)試(shi)的(de)集成電路的(de)類型和(he)規格(ge)，確定所(suo)需的(de)測(ce)試(shi)溫度范(fan)圍(wei)。一般來(lai)說，冷熱循環(huan)沖擊測(ce)試(shi)機的(de)溫度范(fan)圍(wei)應(ying)該在-120℃到200℃之間，以滿(man)足大(da)多(duo)數半導體(ti)的測(ce)試需求。

　　2、溫(wen)(wen)度(du)(du)穩(wen)定(ding)性(xing)：溫(wen)(wen)度(du)(du)穩(wen)定(ding)性(xing)是測(ce)(ce)試(shi)系統的(de)重(zhong)要指(zhi)標之一。冷熱(re)循環沖(chong)擊測(ce)(ce)試(shi)機的(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)穩(wen)定(ding)性(xing)應(ying)該足(zu)夠高，以保(bao)證測(ce)(ce)試(shi)結果的(de)準(zhun)確性(xing)和可靠性(xing)。一般來說，溫(wen)(wen)度(du)(du)波動(dong)范圍應(ying)該在±1℃以(yi)內(nei)。

　　3、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)速(su)度：測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)速(su)度也是(shi)需要考慮的(de)因(yin)素之一(yi)。冷熱循環沖擊測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)機(ji)的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)速(su)度應該足夠(gou)快(kuai)，以減(jian)少測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時間和提升效率。一般來說，冷熱循環沖擊測(ce)試(shi)機測(ce)試(shi)速度應該在每小時測(ce)試(shi)數百個樣品(pin)以上。

　　4、測試精度：冷熱循環沖擊測試機的測試精度應該足(zu)夠(gou)高，以保證(zheng)測試結(jie)果的準(zhun)確性和(he)可(ke)靠性。一般來說，測試誤差應該在±1℃以內(nei)。

　　5、售后服(fu)務(wu)：在(zai)選購冷熱循環沖(chong)擊測試機時，需要考慮系(xi)統的(de)(de)品牌(pai)和(he)售后服(fu)務(wu)。一(yi)般來說，品牌(pai)的(de)(de)系(xi)統質量(liang)和(he)售后服(fu)務(wu)較好，但價格也會(hui)相應較高。因(yin)此，需要根據實際情況(kuang)進(jin)行(xing)權衡(heng)。

　　6、預算：冷熱循環(huan)沖(chong)擊測試機的價(jia)格(ge)因(yin)品牌、性(xing)能和質量等因(yin)素而異，需要(yao)根據(ju)實際需求(qiu)和預算進行選擇。

綜(zong)上所述(shu)，選(xuan)購冷熱(re)循環沖擊測(ce)試機需(xu)要(yao)考慮(lv)多(duo)個因素(su)，包括(kuo)測(ce)試溫度(du)范圍、溫度(du)穩定性、測(ce)試速度(du)、測(ce)試精度(du)、系統品牌和(he)(he)售后服務(wu)以(yi)及預(yu)算等(deng)。需(xu)要(yao)根據實際需(xu)求和(he)(he)預(yu)算進行綜(zong)合(he)權衡，選(xuan)擇適合(he)自(zi)己(ji)需(xu)要(yao)的測(ce)試系統。