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簡要描(miao)述：【無錫冠亞】半導(dao)體(ti)控(kong)溫(wen)(wen)解決(jue)方案主(zhu)要產(chan)品包(bao)括半導(dao)體(ti)專?溫(wen)(wen)控(kong)設備、射流式(shi)?低溫(wen)(wen)沖擊測試機(ji)和半導(dao)體(ti)??藝廢?處理裝(zhuang)置等?設備，?泛(fan)應?于半導(dao)體(ti)、LED、LCD、太(tai)陽能光(guang)伏(fu)等領域。半導(dao)體(ti)溫(wen)(wen)控(kong)機(ji)Chiller 芯(xin)片(pian)循環(huan)制冷機(ji)
產品型號：LTS-202廠商性質(zhi)：生產廠家更新時間：2024-01-11訪 問 量：594| 品牌 | 冠亞制冷 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半(ban)導(dao)體(ti)專?溫(wen)控設備(bei)(bei)、射(she)流式?低溫(wen)沖(chong)擊測試(shi)機和半(ban)導(dao)體(ti)??藝廢(fei)?處理裝置等(deng)?設備(bei)(bei)，
?泛應(ying)?于半導體、LED、LCD、太陽能光(guang)伏等(deng)領域。
半導體專溫控設(she)備
射流(liu)式?低溫沖擊測試機
半導體專(zhuan)用溫控設備chiller
Chiller氣體(ti)降溫控溫系統
Chiller直冷型
循環風控(kong)溫裝置(zhi)
半(ban)導體?低溫測試(shi)設(she)備
電?設備(bei)?溫(wen)低(di)溫(wen)恒溫(wen)測試(shi)冷(leng)熱源
射流式高低溫沖擊測(ce)試(shi)機
快速溫變控溫卡盤
數據中心液冷解決方(fang)案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
半導體溫控機Chiller 芯片循環制冷機
半導體溫控機Chiller 芯片循環制冷機
在半(ban)導體(ti)制造(zao)過程中，冠亞制冷的冷卻設備chiller的(de)作用大家(jia)有目(mu)共睹。本文將介紹(shao)介質刻蝕(shi)雙通道chiller調試過程中(zhong)的注意事項(xiang)。
1、穩定運行(xing)：在調試過程中，始終要牢記安全的(de)原(yuan)則，避免可(ke)能導致安全事故(gu)的(de)行(xing)為。
2、記錄數據：對調試(shi)過程(cheng)中的所有數據進行記錄，以便后(hou)續分析和(he)故障(zhang)排查(cha)。
3、遵循(xun)規范(fan)：嚴格遵守(shou)介質刻蝕雙通道chiller手(shou)冊和相關(guan)規范進(jin)行調試，確(que)保調試結(jie)果的準確(que)性和可靠性。
4、團(tuan)(tuan)隊協作：在調試過(guo)程中，與(yu)團(tuan)(tuan)隊成(cheng)員保持(chi)良好的溝通(tong)，共同解決問題(ti)，提(ti)高調試效(xiao)率。
總之，介質刻蝕雙通道chiller的調(diao)試(shi)是(shi)一項復雜(za)的工作。在(zai)調(diao)試(shi)過程(cheng)中，需(xu)要(yao)注意細(xi)節，嚴格(ge)遵守(shou)規范(fan)，確保設備正常運(yun)行，為(wei)半導體(ti)制造提供穩(wen)定的冷(leng)卻保障。
