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無錫冠(guan)亞射流(liu)式高(gao)低溫(wen)沖擊測試機(ji)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的(de)環(huan)境溫(wen)度。是對產品電性能測試、失效分析(xi)、可(ke)靠性評估*的(de)儀(yi)器設備(bei)。廣泛應用于半導體企業、航(hang)空航(hang)天(tian)、光通訊、高(gao)校(xiao)、研究所等領域。高(gao)低溫(wen)氣(qi)流(liu)循環(huan)系統操(cao)作流(liu)程

無錫冠亞射流式高低(di)溫沖擊測試(shi)機給芯(xin)片、模塊、集成(cheng)電(dian)路板、電(dian)子元器件等提供快速的環境(jing)溫度(du)。是對產品電(dian)性(xing)能測試(shi)、失(shi)效分析(xi)、可靠(kao)性(xing)評(ping)估(gu)*的儀器設備。廣泛(fan)應用于半導體企業、航空航天、光(guang)通(tong)訊、高校、研究所等領域。高低(di)溫循環測試(shi)系統注意事項

射流式高低溫沖擊(ji)測試機(ji)給芯片、模(mo)塊、集成電路板、電子(zi)元器件等提供快速的環境溫度。是(shi)對產品電性能測試、失(shi)效分析、可(ke)靠性評估*的儀器設備。廣泛應(ying)用于(yu)半導體(ti)企業、航空航天、光(guang)通訊、高校、研(yan)究所等領(ling)域(yu)。IC芯片溫度沖擊(ji)測試機(ji)清潔保養