相關文章
元器件高低溫測(ce)試裝置在(zai)用(yong)(yong)于惡劣環(huan)境(jing)的半(ban)導體電(dian)子(zi)元件的制(zhi)造中,IC封裝組裝和(he)(he)工程和(he)(he)生產的測(ce)試階段包括在(zai)溫度(-85℃至+ 250℃)下的電(dian)子(zi)冷熱測(ce)試和(he)(he)其他環(huan)境(jing)測(ce)試模擬。蝕刻機(ji)用(yong)(yong)冷水機(ji)組價(jia)格影響因素(su)有哪些
更新時間:2024-01-07
廠商性質:生產(chan)廠家
元(yuan)器件高低溫測(ce)試(shi)裝(zhuang)置(zhi)在(zai)用于(yu)惡劣(lie)環(huan)境的(de)(de)半導(dao)體電子(zi)元(yuan)件的(de)(de)制(zhi)造中,IC封(feng)裝(zhuang)組裝(zhuang)和工程和生產的(de)(de)測(ce)試(shi)階段包括在(zai)溫度(du)(-85℃至+ 250℃)下的(de)(de)電子(zi)冷(leng)熱測(ce)試(shi)和其(qi)他環(huan)境測(ce)試(shi)模擬。蝕刻液冷(leng)卻裝(zhuang)置(zhi)的(de)(de)類型(xing)和機(ji)油要(yao)求
更新時間:2024-01-07
廠商性質:生產廠家